1. 本选题研究的目的及意义
随着电子技术的快速发展，数字芯片已经成为各种电子设备的核心部件，其功能和性能的优劣直接影响着整个系统的质量。
然而，由于设计复杂度不断提高、工艺不断进步以及应用环境日益复杂等因素，数字芯片的缺陷和故障率也随之增加。
因此，为了保证数字芯片的质量和可靠性，对其进行有效的检测显得尤为重要。
2. 本选题国内外研究状况综述
数字芯片检测技术是一个系统工程，涉及到多个学科领域，近年来得到了国内外学者的广泛关注和研究。
1. 国内研究现状
国内在数字芯片检测领域起步较晚，但近年来发展迅速，在测试算法、测试平台搭建等方面取得了一定的成果。
3. 本选题研究的主要内容及写作提纲
1. 主要内容
本课题研究的主要内容包括以下几个方面：
1.数字芯片检测技术概述：研究数字芯片的测试原理、常用测试方法、测试标准及规范等，为检测系统的研制奠定理论基础。
2.系统需求分析与总体设计：分析数字芯片检测系统的功能需求和性能需求，并在此基础上进行系统总体架构设计，确定系统的硬件和软件组成。
4. 研究的方法与步骤
本研究将采用理论分析、实验研究和工程实践相结合的方法，逐步推进数字芯片检测系统的研究工作。
首先，进行文献调研，深入研究数字芯片检测技术的发展现状、最新研究成果和未来发展趋势，为系统的设计和实现提供理论依据。
其次，进行系统需求分析，明确数字芯片检测系统的功能需求和性能需求，并在此基础上进行系统总体架构设计，确定系统的硬件和软件组成。
5. 研究的创新点
本研究的创新点主要体现在以下几个方面：
1.高效的测试向量生成方法：针对传统测试向量生成方法效率低下的问题，研究基于机器学习的测试向量生成方法，提高测试向量的生成效率，缩短测试时间。
2.精确的故障诊断算法：针对传统故障诊断算法精度不高的问题，研究基于深度学习的故障诊断算法，提高故障诊断的精度，降低误判率。
3.可扩展的系统架构：采用模块化设计思想，设计可扩展的系统架构，方便后续功能的扩展和升级，提高系统的可维护性和可扩展性。
6. 计划与进度安排
第一阶段 （2024.12~2024.1）确认选题，了解毕业论文的相关步骤。
第二阶段（2024.1~2024.2）查询阅读相关文献，列出提纲
第三阶段（2024.2~2024.3）查询资料，学习相关论文
7. 参考文献（20个中文5个英文）
1. 何虎, 毛巍, 李宁, 等. 基于RISC-V的SoC芯片测试方案设计[J]. 电子技术应用, 2022, 48(10): 79-83.
2. 张宇. 基于Chisel语言的数字电路自动化测试平台[J]. 电子技术与软件工程, 2023(4): 159-162.
3. 崔岩松, 张波, 刘天骄, 等. 面向数字芯片安全的硬件木马检测技术研究进展[J]. 信息安全学报, 2022, 7(5): 1-17.
